粒径是影响绝缘子积污的重要因素之一。为此采用激光粒度法对±660 k V银东直流输电线路长期积污后的线路绝缘子表面污秽颗粒进行粒径测量、统计分析,并区分不同带电形式、上下伞面、与导线间不同距离、绝缘子不同材质等,讨论线路绝缘子自然积污的特性和分布规律。统计结果表明:激光粒度法–干法测试线路绝缘子污秽粒径,其结果服从对数正态分布;负极线路污秽中10μm以下的小颗粒物含量略多于正极线路;绝缘子上、下表面污秽粒径分布范围大致相同,上表面平均粒径略大于下表面;离导线距离越近,细颗粒物含量越高;所有粒径参数范围内,复合绝缘子污秽颗粒的粒径均小于瓷绝缘子。不同条件下的污秽粒径分布差异,是由于污秽所受的力不同及绝缘子材质不同引起的直流线路绝缘子自然积污污秽颗粒粒径分布特征2937图1污秽粒径的对数正态分布PP图Fi析以上数据可知，正、负极线路上污秽颗粒D90平均值分别为34.41、33.37μm，无论正极线路还是负极线路，绝大部分绝缘子污秽颗粒的粒径<35μm。正、负极线路上污秽颗粒D50平均值均<15μm，正极线路上污秽颗粒D50均值大于负极线路D50均值。正极线路上污秽颗粒D10平均值为5.66μm，负极线路上污秽颗粒D10平均值为5.27μm，正极线路上的略大一些，二者值相差不大。此外，由0~3μm范围的累积概率P<3值可看出负极线路污秽中3μm以下的细颗粒物略多于正极线路。负极线路污秽中10μm以下小颗粒的含量仍略多于正极线路，且正负极间小颗粒含量的差距有所增大。对于40μm以下颗粒物的累积概率，正、负极线路污秽的P<40差距缩校结合图2、表2可知，正极线路污秽中20~40μm范围内大颗粒的含量多于负极线路直流线路绝缘子-数控滚圆机滚弧机折弯机张家港钢管滚圆机滚弧机折弯机，而负极线路污秽中10μm以下的颗粒物含量多于正极线路。大气颗粒物在绝缘子表面的沉积过程主要是图2正、负极线路瓷绝缘子污秽颗粒的粒径分布F。 因此下表面受电场力影响易沉积荷电小颗粒本文由公司网站滚圆机网站 转摘采集转载中国知网整理!   http://www.dapengkuoguanji.com/ 。以上几点因素共同作用，造成了上表面的平均粒径大于下表面，下表面的细小颗粒物多于上表面。2.4与导线间不同距离下绝缘子污秽颗粒的粒径分布为考察导线与绝缘子间距离对污秽颗粒粒径的影响，按与导线间距离远近将瓷绝缘子串等分为A、B、C三个区域进行样品采集，其中A为距导线较近处，场强较高，C为距导线较远处，场强较弱，B介于A与C之间。为达到激光粒径测试所需的样品量，每个区域的样品均为上、下表面的混合样品。对采得的污秽样本进行粒径分布测试，图5为同一基塔的污秽统计粒径累积概率分布和频率分布图，表4为选取2基塔正、负极A、B、C3个区域的污秽粒径统计结果。结合图5和表4可以看出，0~3μm范围内，A区域绝缘子污秽的P<3均值为3.22%，B区域绝缘子污秽的P<3均值为2.38%，C区域绝缘子污秽的P<3均值为2.58%，可见离导线距离越近，3μm以下细颗粒物含量越高。A区域绝缘子污秽的P<10和P<20分别为36.11%和71.04%，B区域绝缘子污秽的P<10和P<20分别为34.48%和69.20%，C区域绝缘子污秽的P<10和P<20分别为32.39%和67.33%，可见随着与导线距离的增大，20μm以下小颗粒的含量随之减少，但是分布概率相差不大。C区域污秽颗粒的粒径分布范围略宽，但与A、B区域相差不大。这一现象的主要原因是银东直流线路中的绝缘子周围分布的较强电常一方面，大气颗粒在电场中受到的作用力包括电场力和极化力，电场力与场强成正比，离导线越近，场强越强，所受电场力也就越大，小颗粒受电场力作用大于重力，因此也就吸引更多的荷电小颗粒。极化力与重力同样与粒径的3次方成正比，但是离导线越近，所受极化力也会越强[15]。另一方面，大气颗直流线路绝缘子-数控滚圆机滚弧机折弯机张家港钢管滚圆机滚弧机折弯机本文由公司网站滚圆机网站 转摘采集转载中国知网整理!   http://www.dapengkuoguanji.com/